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三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐寒耐熱試驗(yàn)、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱（兩箱式）適用于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐寒耐熱試驗(yàn)、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)。

小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱/高低溫是電子電器零組件、金屬、化學(xué)材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化的理想選擇。

高低溫沖擊試驗(yàn)箱是電子電器零組件、金屬、化學(xué)材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化的理想選擇。

三廂式高低溫沖擊試驗(yàn)箱分為：高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試產(chǎn)品置于測(cè)試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測(cè)試區(qū)進(jìn)行沖擊, 測(cè)試產(chǎn)品為靜態(tài)式。

兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱是電子電器零組件、金屬、化學(xué)材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化的理想測(cè)試工具.$n適用于產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)，對(duì)物品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、該進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。